可靠性高低溫沖擊檢測設(shè)備特別適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導(dǎo)體電子器件材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)溫及溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在Z短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃起移動的。
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內(nèi)箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：A表示：-40℃～+150℃
              B表示：-55℃～+150℃
              C表示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動度：±2.0℃
溫度轉(zhuǎn)換時間：10S
溫度穩(wěn)定時間：5MIN，常溫～Z低溫度5MIN，常溫～高溫度5MIN
內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304不銹鋼
外箱材質(zhì)：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理
冷卻方式：水冷或風(fēng)冷（可選擇）
冷凍系統(tǒng)：冷凍機組為復(fù)疊式，*法泰康壓縮機或*比澤爾壓縮機，R404A、R23A環(huán)保冷媒
高低溫冷熱沖擊試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)各種產(chǎn)品的品質(zhì),從的IC到重機械的組件，不需要它,目此設(shè)備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認(rèn)的理想測試工具。
可靠性高低溫沖擊檢測設(shè)備的測控系統(tǒng)：
1.控制器：進口7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊
2.運行方式：程序方式
﹙1﹚控制對象 試驗區(qū)曝露溫度
高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)除霜溫度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制
3.設(shè)定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。
4.程序容量：100組程式，每個程序Z大3步；每個程序可設(shè)1000次循環(huán)，Z大循環(huán)設(shè)定9999cycles;